L’outil est un microscope électronique en transmission (MET) de dernière génération, résolu spatialement et spectralement. Il dispose d’un canon à haute brillance (XFEG) monochromaté, d’un correcteur d’aberration sphérique pour la sonde et d’un filtre en énergie à haute résolution. Très récemment, deux détecteurs d’électrons directs ont été installés sur le microscope (devant et derrière le filtre en énergie), ce qui augmente encore les performances de l’instrument en termes de sensibilité et de rapidité de détection du signal. 

Le MET Titan Themis est dédié à l’analyse chimique et structurale des matériaux à l’échelle atomique. Il permet de réaliser de façon couplée des images à résolution atomique au contraste chimique (mode balayage haute résolution, HRSTEM), des cartographies chimiques en spectroscopie de dispersion d’énergie de rayon X (EDS) et physico-chimiques en spectroscopie de perte d’énergie des électrons (EELS), ainsi que des cartographies structurales en diffraction des électrons. Avec ses nouveaux détecteurs, il est particulièrement adapté à l’étude des matériaux sensibles sous le faisceau électronique comme le sont un grand nombre de minéraux.